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      航空航天用按鈕開關的抗輻射與真空放電特性研究

      發(fā)布時間:2025-04-21

      在航空航天領域,按鈕開關作為關鍵控制元件,其性能直接影響系統(tǒng)可靠性。航空航天環(huán)境復雜,存在輻射與真空等特殊條件,研究按鈕開關的抗輻射與真空放電特性具有重要意義。

      一、抗輻射特性
      航空航天中的輻射環(huán)境會對按鈕開關造成損害。例如,典型國產VDMOS宇航應用的輻照及熱應力可靠性研究表明,輻照會導致器件閾值電壓、漏電流等關鍵技術參數(shù)變化。為提高抗輻射能力,可從工藝、電路、版圖三個角度進行加固設計。如采用SOI工藝,對電路進行抗輻照設計,在版圖設計上對模擬地與功率地、模擬電源與功率電源分開設計,對開關噪聲較大的輸出功率級采用襯底環(huán)隔離。

      二、真空放電特性
      真空環(huán)境中,按鈕開關可能發(fā)生放電現(xiàn)象。真空放電是靠陰極斑點維持的,完成主間隙的導通首先要在主陰極上形成斑點。以真空觸發(fā)開關(TVS)為例,其觸發(fā)結構不同會影響放電特性。沿面擊穿型觸發(fā)結構,觸發(fā)電極與主電極間陶瓷沿面距離較小,為降低觸發(fā)電壓和觸發(fā)能量,可在陶瓷表面涂敷觸發(fā)材料,但觸發(fā)壽命較短。

      三、研究展望
      目前,航空航天用按鈕開關在抗輻射與真空放電特性方面仍存在一些問題。未來,可進一步深入研究輻射效應的機理,開發(fā)更精確的輻射模型和仿真庫,以提高電路的抗輻照能力。同時,優(yōu)化按鈕開關的觸發(fā)結構,提高其真空放電性能和壽命,滿足航空航天領域對高性能按鈕開關的需求。

      通過對航空航天用按鈕開關的抗輻射與真空放電特性研究,可為相關產品的設計和應用提供理論支持和技術保障,推動航空航天技術的發(fā)展。

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